X-Rite Ci62
spektrofotometr sferyczny

X-Rite Ci62 – Spektrofotometr ręczny sferyczny

Mobilne urządzenie do pomiaru barwy na nieregularnych, teksturowanych i metalizowanych powierzchniach. Dokładność, elastyczność i łatwa integracja.

X-Rite-Ci62

X-Rite Ci62 to zaawansowany spektrofotometr sferyczny nowej generacji, stworzony do precyzyjnej kontroli barwy w trudnych warunkach produkcyjnych. Urządzenie pozwala na pomiary materiałów o zróżnicowanej strukturze – od tekstyliów i skóry, po powierzchnie lakierowane, metalizowane i tworzywa sztuczne.

Dzięki możliwości wyboru otworu pomiarowego (4 mm, 8 mm, 14 mm), pomiarowi połysku (60°), pracy w trybach SPIN/SPEX oraz łączności USB/Bluetooth, Ci62 sprawdza się zarówno w laboratoriach, jak i na hali produkcyjnej.

X-Rite-Ci62

Najważniejsze funkcje i korzyści Ci62:

  • Pomiar SPIN/SPEX – precyzyjna analiza barwy z uwzględnieniem lub bez wpływu połysku.
  • Pomiar połysku 60° – dodatkowe informacje o odbiciu światła od powierzchni.
  • Trzy apertury pomiarowe – dopasowanie do różnych typów i wielkości próbek.
  • Integracja z NetProfiler – spójność wyników w całej organizacji.
  • Bezprzewodowa transmisja danych – przez Bluetooth lub USB.
  • Intuicyjna obsługa – ekran LCD i uproszczony interfejs.
  • Pamięć do 4000 pomiarów i 1000 wzorców – archiwizacja danych w urządzeniu.
X-Rite-Ci62

Specyfikacja techniczna Ci62:

ParametrWartość
BateriaLi-ion
KalibracjaBiały i Zero
Różnice barw[√/X], Δecmc, Δlab, ΔE00, Δreflektancja, ΔE94,
ΔXYZ, ΔLab*, ΔYxy, ΔLCh°, ΔLuv*, różnica werbalna
Przestrzenie barwneLab, Lab*, Reflektancja, LCh°, Notacja Munsella, XYZ, Yxy, Luv*
Interfejs komunikacyjnyUSB 2.0, Bluetooth*
Wymiary (długość, szerokość, wysokość)21,3 cm x 9,1 cm x 10,9 cm
Wbudowana obsługa NetProfilerTak
Wilgotność5% – 85%, bez kondensacji
Typ iluminantuA, C, D50, D65, F2, F7, F11, F12
Rozmiar plamki oświetlenia20 mm, 14 mm lub 6,5 mm

Zaawansowane możliwości pomiarowe

X-Rite Ci62 oferuje pełną elastyczność pomiarową, dzięki czemu możesz precyzyjnie analizować różne materiały.

Dostępne tryby pomiarowe:

  • SPIN (SCI) – pomiar barwy bez wpływu na połysk powierzchni.
  • SPEX (SCE) – pomiar barwy z uwzględnieniem efektu połysku.
  • Skorelowany połysk (60°) – analiza odbicia światła od powierzchni materiału.

Wsparcie dla różnorodnych materiałów:

  • Farby i lakiery – analiza kolorów i połysku w produkcji przemysłowej.
  • Tworzywa sztuczne – kontrola spójności kolorów w produkcji komponentów.
  • Opakowania i etykiety – zgodność kolorystyczna w branży drukarskiej.
  • Tekstylia i skóra – precyzyjna analiza barwna dla przemysłu odzieżowego.
  • Powierzchnie metalizowane – dokładna kontrola barw i połysku w elementach dekoracyjnych.

Dodatkowe funkcje ułatwiające kontrolę jakości:

  • Pamięć na 1000 wzorców i 4000 próbek, co pozwala na przechowywanie i porównywanie danych pomiarowych.
  • Funkcja automatycznego zapisu pomiarów, co zapewnia ciągłość analizy barwnej i ułatwia audyty jakości.
  • Zgodność z NetProfiler – gwarancja stałej kalibracji i powtarzalności wyników między lokalizacjami.
X-Rite-Ci62

Najlepsza w swojej klasie globalna obsługa serwisowa i wsparcie

X-Rite zapewnia kompleksową obsługę serwisową, obejmującą:

  • Certyfikację ISO – zgodność z najwyższymi normami jakości.
  • Plany ochrony serwisowej – regularne przeglądy i kalibrację urządzenia.
  • Doradztwo techniczne i szkolenia – wsparcie w optymalizacji procesów produkcyjnych.
  • NetProfiler – narzędzie do zdalnej kalibracji i standaryzacji wyników pomiarowych.

Skontaktuj się z nami:

Anton Skrypchyk
📩
a.skrypchyk@cmconsulting.pl
📞+48 725 513 524
PL, ENG, UA, RU

Marcin Smoła
📩
m.smola@cmconsulting.pl
📞+48 661 284 645
PL, ENG