X-Rite Ci62 – Spektrofotometr ręczny sferyczny
Mobilne urządzenie do pomiaru barwy na nieregularnych, teksturowanych i metalizowanych powierzchniach. Dokładność, elastyczność i łatwa integracja.

X-Rite Ci62 to zaawansowany spektrofotometr sferyczny nowej generacji, stworzony do precyzyjnej kontroli barwy w trudnych warunkach produkcyjnych. Urządzenie pozwala na pomiary materiałów o zróżnicowanej strukturze – od tekstyliów i skóry, po powierzchnie lakierowane, metalizowane i tworzywa sztuczne.
Dzięki możliwości wyboru otworu pomiarowego (4 mm, 8 mm, 14 mm), pomiarowi połysku (60°), pracy w trybach SPIN/SPEX oraz łączności USB/Bluetooth, Ci62 sprawdza się zarówno w laboratoriach, jak i na hali produkcyjnej.

Najważniejsze funkcje i korzyści Ci62:
- Pomiar SPIN/SPEX – precyzyjna analiza barwy z uwzględnieniem lub bez wpływu połysku.
- Pomiar połysku 60° – dodatkowe informacje o odbiciu światła od powierzchni.
- Trzy apertury pomiarowe – dopasowanie do różnych typów i wielkości próbek.
- Integracja z NetProfiler – spójność wyników w całej organizacji.
- Bezprzewodowa transmisja danych – przez Bluetooth lub USB.
- Intuicyjna obsługa – ekran LCD i uproszczony interfejs.
- Pamięć do 4000 pomiarów i 1000 wzorców – archiwizacja danych w urządzeniu.

Specyfikacja techniczna Ci62:
| Parametr | Wartość |
| Bateria | Li-ion |
| Kalibracja | Biały i Zero |
| Różnice barw | [√/X], Δecmc, Δlab, ΔE00, Δreflektancja, ΔE94, ΔXYZ, ΔLab*, ΔYxy, ΔLCh°, ΔLuv*, różnica werbalna |
| Przestrzenie barwne | Lab, Lab*, Reflektancja, LCh°, Notacja Munsella, XYZ, Yxy, Luv* |
| Interfejs komunikacyjny | USB 2.0, Bluetooth* |
| Wymiary (długość, szerokość, wysokość) | 21,3 cm x 9,1 cm x 10,9 cm |
| Wbudowana obsługa NetProfiler | Tak |
| Wilgotność | 5% – 85%, bez kondensacji |
| Typ iluminantu | A, C, D50, D65, F2, F7, F11, F12 |
| Rozmiar plamki oświetlenia | 20 mm, 14 mm lub 6,5 mm |
Zaawansowane możliwości pomiarowe
X-Rite Ci62 oferuje pełną elastyczność pomiarową, dzięki czemu możesz precyzyjnie analizować różne materiały.
Dostępne tryby pomiarowe:
- SPIN (SCI) – pomiar barwy bez wpływu na połysk powierzchni.
- SPEX (SCE) – pomiar barwy z uwzględnieniem efektu połysku.
- Skorelowany połysk (60°) – analiza odbicia światła od powierzchni materiału.
Wsparcie dla różnorodnych materiałów:
- Farby i lakiery – analiza kolorów i połysku w produkcji przemysłowej.
- Tworzywa sztuczne – kontrola spójności kolorów w produkcji komponentów.
- Opakowania i etykiety – zgodność kolorystyczna w branży drukarskiej.
- Tekstylia i skóra – precyzyjna analiza barwna dla przemysłu odzieżowego.
- Powierzchnie metalizowane – dokładna kontrola barw i połysku w elementach dekoracyjnych.
Dodatkowe funkcje ułatwiające kontrolę jakości:
- Pamięć na 1000 wzorców i 4000 próbek, co pozwala na przechowywanie i porównywanie danych pomiarowych.
- Funkcja automatycznego zapisu pomiarów, co zapewnia ciągłość analizy barwnej i ułatwia audyty jakości.
- Zgodność z NetProfiler – gwarancja stałej kalibracji i powtarzalności wyników między lokalizacjami.

Najlepsza w swojej klasie globalna obsługa serwisowa i wsparcie
X-Rite zapewnia kompleksową obsługę serwisową, obejmującą:
- Certyfikację ISO – zgodność z najwyższymi normami jakości.
- Plany ochrony serwisowej – regularne przeglądy i kalibrację urządzenia.
- Doradztwo techniczne i szkolenia – wsparcie w optymalizacji procesów produkcyjnych.
- NetProfiler – narzędzie do zdalnej kalibracji i standaryzacji wyników pomiarowych.

Skontaktuj się z nami:
Anton Skrypchyk
📩 a.skrypchyk@cmconsulting.pl
📞+48 725 513 524
PL, ENG, UA, RU
Marcin Smoła
📩 m.smola@cmconsulting.pl
📞+48 661 284 645
PL, ENG