X-Rite Ci62 – Ручной сферический спектрофотометр
Мобильное устройство для измерения цвета на неровных, текстурированных и металлизированных поверхностях. Точность, гибкость и простота интеграции.

X-Rite Ci62 — это усовершенствованный сферический спектрофотометр нового поколения, предназначенный для точного контроля цвета в сложных производственных условиях. Прибор позволяет проводить измерения материалов с разнообразной структурой — от текстиля и кожи до окрашенных, металлизированных и пластиковых поверхностей.
Благодаря возможности выбора измерительной апертуры (4 мм, 8 мм, 14 мм), измерению блеска (60°), работе SPIN/SPEX и подключению через USB/Bluetooth прибор Ci62 подходит как для лабораторного, так и для производственного использования.

Основные характеристики и преимущества Ci62:
- Измерение SPIN/SPEX – точный анализ цвета с учетом или без учета влияния блеска.
- Измерение блеска 60° – дополнительная информация об отражении света от поверхности.
- Три измерительных отверстия — подходят для разных типов и размеров образцов.
- Интеграция с NetProfiler – единообразные результаты по всей организации.
- Беспроводная передача данных — через Bluetooth или USB.
- Интуитивно понятное управление – ЖК-экран и упрощенный интерфейс.
- Память до 4000 измерений и 1000 шаблонов — архивация данных в устройстве.

Технические характеристики Ci62:
| Параметр | Ценить |
| Аккумулятор | Li-ion |
| Калибровка | Белый и ноль |
| Различия в цвете | [√/X], Δecmc, Δlab, ΔE00, Δотражения, ΔE94, ΔXYZ, ΔLab*, ΔYxy, ΔLCh°, ΔLuv*, словесная разница |
| Цветовые пространства | Lab, Lab*, Отражательная способность, LCh°, Нотация Манселла, XYZ, Yxy, Luv* |
| Интерфейс связи | USB 2.0, Bluetooth* |
| Размеры (длина, ширина, высота) | 21,3см х 9,1см х 10,9см |
| Встроенная поддержка NetProfiler | Да |
| Влажность | 5% — 85%, без конденсации |
| Тип источника света | А, С, Д50, Д65, Ф2, Ф7, Ф11, Ф12 |
| Размер пятна освещения | 20 мм, 14 мм или 6,5 мм |
Расширенные возможности измерения
X-Rite Ci62 обеспечивает полную гибкость измерений , позволяя вам точно анализировать различные материалы .
Доступные режимы измерения:
- SPIN (SCI) – измерение цвета без влияния на блеск поверхности.
- SPEX (SCE) – измерение цвета с учетом эффекта блеска.
- Коррелированный блеск (60°) – анализ отражения света от поверхности материала.
Поддержка различных материалов:
- Лакокрасочные материалы – анализ цвета и блеска в промышленном производстве.
- Пластмассы – контроль однородности цвета при производстве компонентов.
- Упаковка и этикетки – постоянство цвета в полиграфии.
- Текстиль и кожа – Точный анализ цвета для швейной промышленности.
- Металлизированные поверхности – точный контроль цвета и блеска в декоративных элементах.
Дополнительные функции, облегчающие контроль качества:
- Память на 1000 стандартов и 4000 образцов , что позволяет сохранять и сравнивать данные измерений .
- Функция автоматической записи измерений , которая обеспечивает непрерывность цветового анализа и облегчает аудит качества .
- Совместимость с NetProfiler — гарантирует единообразную калибровку и повторяемость результатов в разных местах .

Лучший в своем классе глобальный сервис и поддержка
X-Rite предоставляет комплексное обслуживание, включая:
- Сертификация ISO – соответствие высочайшим стандартам качества.
- Планы защиты сервиса – регулярные проверки и калибровка устройства.
- Технический консалтинг и обучение – поддержка в оптимизации производственных процессов.
- NetProfiler – инструмент для удаленной калибровки и стандартизации результатов измерений .

Связаться с нами:
Антон Скрипчик
📩 a.skrypchyk@cmconsulting.pl
📞 +48 725 513 524
PL, ANG, UA, RU
Марцин Смолa
📩 m.smola@cmconsulting.pl
📞 +48 661 284 645
PL, ENG