X-Rite Ci62
Сферический спектрофотометр

X-Rite Ci62 – Ручной сферический спектрофотометр

Мобильное устройство для измерения цвета на неровных, текстурированных и металлизированных поверхностях. Точность, гибкость и простота интеграции.

X-Rite-Ci62

X-Rite Ci62 — это усовершенствованный сферический спектрофотометр нового поколения, предназначенный для точного контроля цвета в сложных производственных условиях. Прибор позволяет проводить измерения материалов с разнообразной структурой — от текстиля и кожи до окрашенных, металлизированных и пластиковых поверхностей.

Благодаря возможности выбора измерительной апертуры (4 мм, 8 мм, 14 мм), измерению блеска (60°), работе SPIN/SPEX и подключению через USB/Bluetooth прибор Ci62 подходит как для лабораторного, так и для производственного использования.

X-Rite-Ci62

Основные характеристики и преимущества Ci62:

  • Измерение SPIN/SPEX – точный анализ цвета с учетом или без учета влияния блеска.
  • Измерение блеска 60° – дополнительная информация об отражении света от поверхности.
  • Три измерительных отверстия — подходят для разных типов и размеров образцов.
  • Интеграция с NetProfiler – единообразные результаты по всей организации.
  • Беспроводная передача данных — через Bluetooth или USB.
  • Интуитивно понятное управление – ЖК-экран и упрощенный интерфейс.
  • Память до 4000 измерений и 1000 шаблонов — архивация данных в устройстве.
X-Rite-Ci62

Технические характеристики Ci62:

ПараметрЦенить
АккумуляторLi-ion
КалибровкаБелый и ноль
Различия в цвете[√/X], Δecmc, Δlab, ΔE00, Δотражения, ΔE94,
ΔXYZ, ΔLab*, ΔYxy, ΔLCh°, ΔLuv*, словесная разница
Цветовые пространстваLab, Lab*, Отражательная способность, LCh°, Нотация Манселла, XYZ, Yxy, Luv*
Интерфейс связиUSB 2.0, Bluetooth*
Размеры (длина, ширина, высота)21,3см х 9,1см х 10,9см
Встроенная поддержка NetProfilerДа
Влажность5% — 85%, без конденсации
Тип источника светаА, С, Д50, Д65, Ф2, Ф7, Ф11, Ф12
Размер пятна освещения20 мм, 14 мм или 6,5 мм

Расширенные возможности измерения

X-Rite Ci62 обеспечивает полную гибкость измерений , позволяя вам точно анализировать различные материалы .

Доступные режимы измерения:

  • SPIN (SCI) – измерение цвета без влияния на блеск поверхности.
  • SPEX (SCE) – измерение цвета с учетом эффекта блеска.
  • Коррелированный блеск (60°) – анализ отражения света от поверхности материала.

Поддержка различных материалов:

  • Лакокрасочные материалы – анализ цвета и блеска в промышленном производстве.
  • Пластмассы – контроль однородности цвета при производстве компонентов.
  • Упаковка и этикетки – постоянство цвета в полиграфии.
  • Текстиль и кожа – Точный анализ цвета для швейной промышленности.
  • Металлизированные поверхности – точный контроль цвета и блеска в декоративных элементах.

Дополнительные функции, облегчающие контроль качества:

  • Память на 1000 стандартов и 4000 образцов , что позволяет сохранять и сравнивать данные измерений .
  • Функция автоматической записи измерений , которая обеспечивает непрерывность цветового анализа и облегчает аудит качества .
  • Совместимость с NetProfiler — гарантирует единообразную калибровку и повторяемость результатов в разных местах .
X-Rite-Ci62

Лучший в своем классе глобальный сервис и поддержка

X-Rite предоставляет комплексное обслуживание, включая:

  • Сертификация ISO – соответствие высочайшим стандартам качества.
  • Планы защиты сервиса – регулярные проверки и калибровка устройства.
  • Технический консалтинг и обучение – поддержка в оптимизации производственных процессов.
  • NetProfiler – инструмент для удаленной калибровки и стандартизации результатов измерений .

Связаться с нами:

Антон Скрипчик
📩
a.skrypchyk@cmconsulting.pl
📞 +48 725 513 524
PL, ANG, UA, RU

Марцин Смолa
📩
m.smola@cmconsulting.pl
📞 +48 661 284 645
PL, ENG